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In Situ Nanostructure Processing Lab. (INPL)

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Request for TEM measurement(&analysis) and cooperation

투과전자현미경 (TEM) 측정 의뢰 및 현력연구

  • 기종 : Technai G2 S-Twin 300 KeV (120 ~ 300 KeV variable) (STEM/EDS included)
  • 분석종류 : Diffraction contrast imaging (Bright field and dark field), diffraction, high resolution imaging (HREM), STEM imaging, EDS (spot, line scanning and mapping)
  • 분석물질 : 금속, 반도체, 세라믹, 고분자, 바이오 물질 등
  • 분석료
    • GIST 학부 : 시간당 5만원/ 샘플당 2만원 (HREM과 EDS분석은 추가 1만원)
    • 외부 : 시간당 8만원/ 샘플당 2만원/ HRTEM 샘플당 2만원/ STEM 샘플당 2만원/ EDS 샘플당 2만원 (mapping의 경우 30분당 1개 취급)/ 이미지당 2천원

투과전자현미경 측정의뢰 및 현렵연구에 관심있으신 분은 아래의 이메일 주소로 연락해 주세요.

  • kimbj@gist.ac.kr
  • 062-715-2341 (김봉중 교수) / 062-715-2356, 2355 (Technical staff: 김영이)
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